Beschreibung
Auf den Punkt gebracht
Das Linseis L74 HM Erhitzungsmikroskops ist ein Labormessgerät zur thermo-optischen Untersuchung von Materialien. Aufgrund des größten Temperaturbereichs (-150 bis 2000°C) und der vakuumdichten Probenkammer ergeben sich völlig neue Anwendungsfelder. Mit einer hochauflösenden Farbbildkamera sind Auflösungen bis zu 1 Mikrometer auf einer Probenfläche von bis zu 10 x 14 mm² realisierbar.
Diese liefern einen optischen Eindruck verschiedener thermischer Veränderungen in Echtzeit. Vom Sinterverhalten von Spezialkeramiken über Oberflächeneffekte an Festkörpern und Flüssigkeiten, Benetzungseigenschaften und Kontaktwinkelmessungen zwischen Festkörpern und Flüssigkeiten bzw. Schmelzen ist nahezu jede Anwendung realisierbar.
Das Erhitzungsmikroskop verfügt über einen bis 10-5 mbar evakuierbaren Ofen. Inerte, reduzierende sowie oxidierende Atmosphären sind somit ohne weiteres in einem Bereich von -150°C bis 2000°C möglich.
Die mitgelieferte Software erlaubt neben der Auswertung von Videos und Fotos auch eine automatische Bestimmung von Benetzungs- und Kontaktwinkeln sowie die ereignisgeregelte Ofenansteuerung. Auch die Bestimmung der charakteristischen Temperaturpunkte während der Erhitzung (sphere point, half sphere point usw.) nach DIN 51730, ISO 540 oder CEN/TS 15404 erfolgt automatisch mittels Software.
Die Vorteile des Linseis Erhitzungsmikroskops auf einen Blick:
- Kontaktfreie Probenmessung
- Nahezu alle Atmosphären möglich
- Temperaturbereiche von -150°C bis 2000°C möglich
- CTE von Feststoffen und volumetrische Änderung von Schmelzen
- Automatische Auswertung der relevanten Temperaturpunkte
- Video- und Bildaufzeichnung in Echtzeit
- Ausstattung optimiert für optische CTE-Messung und Erhitzungsmikroskopie-Anwendung (separat oder kombiniert) erhältlich
Unique Features
Großer Temperaturbereich
und flexible Atmosphären
CTE Messung und
volumetrische Änderungen
Service-Hotline
+49 (0) 9287/880 0
Donnerstag von 8-16 Uhr erreichbar
und Freitag von 8-12 Uhr.
Wir sind für Sie da!
Spezifikationen
MODELL | DIL L74 HM* |
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Optisches Messsystem: | Erhitzungsmikroskop mit hochauflösender Kamera und vollautomatischen Fokus |
Temperaturbereich: | -100°C bis 500°C, RT up to 500/1000/1500/2000°C |
Messsystem: | optisch kontaktlos |
Genauigkeit: | bis 1 µm |
Sichtfeld: | 10 x 14 mm |
Atmosphäre: | Inert, reduzierend, oxid., vakuum (optional) |
Vakuum: | bis 10E-5 mbar |
Heizrate: | 0.01 bis 100 K/min (vom Ofen abhängig) |
Int. Standards: | ASTM D1857, CEN/TR 15404,BS 1016:Part 15, CEN/TS 15370-1, DIN 51730, IS 12891, ISO 540, NF M03-048 |
Morphometrics: | Höhe, Breite, Kontaktwinkel, Verhältnis Höhe/Breite, Fläche, Rundheit, Mehr und frei wählbar auch möglich |
Interface: | USB |
*Spezifikationen hängen von den Konfigurationen ab |
Anwendungsbereiche
- Messungen nach DIN 51730 (1984, 1998) / ISO 540-1995
- Charakteristische Temperaturen plus Beginn der Sinterung / Sinterpunkt
- Ascheschmelzmikroskopie
- Beobachtung und Analyse von Sinterprozessen
- Kontaktwinkel-Bestimmung
- Mikroskopie bei hohen Temperaturen und unter verschiedenen Atmosphären
- Dilatometrische Kurven (z.B. Form, Fläche)
- Erweichungs- und Schmelzverhalten, Benetzungsverhalten
- Viskositätskurve
Geeignet für die Analyse von Kohlenasche, Bio-Asche, Schlacken, sowie Keramik, Emaille, Tonkeramik, Dentalkeramik, Schleifscheiben, Spezialkeramik, feuerfester Keramik, Glas, Stahl, Lötpasten, Edelstahl und Flussmitteln.
Software
Werte sichtbar und vergleichbar machen
Dilatometerfunktionen
- Glasübergang und Erweichungspunktbestimmung
- Automatische Erweichungspunktabschaltung, frei einstellbar (Systemschutz)
- Anzeige von absoluter oder relativer Schrumpfung oder Ausdehnung
- Darstellung und Berechnung von technischem / physikalischem Ausdehnungskoeffizienten
- Ratenkontrolliertes Sintern (Software-Option)
- Sinterprozessauswertung
- Dichtebestimmung
- Automatische Auswerteroutinen
- Systemkorrektur (Temperatur, Nullkurve, etc.)
Allgemeine Funktionen
- Echtzeit-Farbdarstellung
- Automatische und manuelle Skalierung
- Darstellung der Achsen frei wählbar (z. B. Temperatur (x-Achse) gegen Delta L (y-Achse))
- Mathematische Berechnungen (z. B. erste und zweite Ableitung)
- Abspeicherung kompletter Auswertungen
- Multitasking-Funktion
- Multi-User-Funktion
- Zoommöglichkeit verschiedener Kurvenausschnitte
- Beliebig viele Kurven können zum Vergleich übereinander geladen werden
- Online Help Menü
- Freie Beschriftungen
- EXCEL® und ASCII Export der Messdaten
- Datenglättung
- Nullkurven werden verrechnet
- Cursor-Funktion
- Statistische Kurvenauswertung (Mittelwertskurve mit Vertrauensintervall)
- Tabellarischer Ausdruck der Daten und Ausdehnungskoeffizienten
- Berechnung von Alpha Phys, Alpha Tech, relative Ausdehnung L/L0
- Kurvenarythmetik, Addition, Subtraktion, Multiplikation
Messsystem
Asche-Schmelzmikroskop
1 – Erweichungstemperatur = Ränder werden rund, 2 – sphärische Temperatur = runde Form mit einer Höhe, die so groß ist wie ihre Grundlinie, 3 – halbe Sphärentemperatur = halbe Sphärenform mit einer Höhe, die halb so groß ist wie ihre Grundlinie, 4 – Fließtemperatur = Probe ist fast flüssig, hat nur ein Drittel der Größe des halben Sphärenpunktes.
Kontaktwinkel
Die Kontaktwinkelmessung findet im Rahmen der Tropfenkonturanalyse statt, bei der das Schattenbild des Tropfens optisch ausgewertet wird. Zusätzlich kann die Temperaturabhängigkeit des Kontaktwinkels mit dem Erhitzungsmikroskop von Linseis genau bestimmt werden.
Schadensanalyse einer beschichteten Quarzscheibe