설명
요점
Linseis DIL L75 PT 수평 및 DIL L75 V는 고체, 액체, 분말 및 페이스트의 열 길이 변화를 측정하기 위한 고정밀 팽창도계입니다.
DIL L75 PT Horizontal은 진공 상태는 물론 산화 및 환원 분위기에서도 측정이 가능한 고진공 밀폐형 설계를 제공합니다.
DIL L75 V는 마찰이 없는 “제로 마찰” 설계가 특징이며, 특히 소결 연구 및 팽창이 매우 낮은 재료에 적합합니다.
두 시스템 모두 최고의 정확도, 재현성 및 장기적인 안정성을 보장하는 고해상도 유도 변위 트랜스듀서를 갖추고 있습니다.
포괄적인 온도 조절 기능과 글러브박스에 사용할 수 있는 옵션 덕분에 다용도로 사용할 수 있습니다.
또한 두 모델 모두 자동 압력 제어 기능을 제공하여 용도에 따라 접촉 압력을 무한대로 변경할 수 있으며 측정하는 동안 일정하게 유지합니다.
다음과 같은 물리적 속성을 측정할 수 있습니다:
극저온 옵션으로 -263°C ~ +220°C의 온도에서 측정이 가능하며, 다양한 시료 홀더, 진공 작동 및 제어된 분위기를 제공하고 최고의 정확도와 간편한 취급을 보장하는 DIL L75 V.
고유 기능
고진공 밀폐형 푸시 로드 팽창계
진공 상태(
) 및 제어된 산화 또는 환원 분위기(
) 하에서 측정
고해상도 유도식
변위 변환기
및 온도 조절로 인한 최고의 정확도 및
재현성
10~1000mN의 연속 접촉 압력
자동 압력 제어(
)
"글로브박스"에 사용하기 위한 기계 및 전기
구성 요소의 선택적 분리
마찰이 없는 "제로 마찰"
디자인, 소결에 이상적
연구 및 ULE 재료
추가 오븐을 위한
턴테이블 옵션이 포함된 컴팩트한 디자인
263°C ~ +220°C의
온도에서 측정할 수 있는 냉동 옵션
서비스 핫라인
+1 (609) 223 2070
+49 (0) 9287/880 0
서비스 이용 시간은 월요일부터
목요일 오전 8시부터 오후 4시까지
, 금요일 오전 8시부터 오후 12시까지입니다.
저희가 도와드리겠습니다!
사양
흰색에 검은색
MODEL | DIL L75 Horizontal* |
|---|---|
| Temperature range: | -180 up to 2800°C |
| LVDT | |
| Delta L resolution: | 0,03 nm |
| Measuring range: | +/- 2500 µm |
| Contact force: | 10 mN up to 1 N |
| Optical Encoder | |
| Delta L resolution: | 0,1 nm |
| Measuring range: | +/- 25000 µm |
| Automatic sample length detection: | yes |
| Force modulation: | yes |
| Contact force: | 10 mN up to 5N |
| Multiple furnace configuration: | up to 2 furnaces |
| Motorized furnace operation: | optional |
| Gas dosing: | manual gas dosing or mass flow controller 1,3 or more gases |
| Contact force adjustment: | included |
| Single/double dilatometer: | optional |
| Softening point detection: | included |
| Density determination: | included |
| L-DTA: | optional (up to 2000°C) |
| Rate controlled sintering (RCS): | included |
| Thermal library: | included |
| Electric thermostatization of measuring head: | included |
| Low temperature options: | LN2, Intracooler |
| Vacuum tight design: | yes |
| Automatic evacuation system: | optional |
| OGS oxygen getter system: | optional |
| *Specs depend on configurations | |
MODEL | DIL L75 Vertical* |
|---|---|
| Temperature range: | -263 up to 2800°C |
| LVDT | |
| Delta L resolution: | 0,03 nm |
| Measuring range: | +/- 2500 µm |
| Contact force: | 10 mN up to 1 N |
| Optical Encoder | |
| Delta L resolution: | 0,1 nm |
| Measuring range: | +/- 25000 µm |
| Automatic sample length detection: | yes |
| Force modulation: | yes |
| Contact force: | 10 mN up to 5N |
| Multiple furnace configuration: | up to 3 furnaces |
| Motorized furnace operation: | optional |
| Gas dosing: | manual gas dosing or mass flow controller 1,3 or more gases |
| Contact force adjustment: | included |
| Single/double dilatometer: | optional |
| Softening point detection: | included |
| Density determination: | included |
| L-DTA: | optional (up to 2000°C) |
| Rate controlled sintering (RCS): | included |
| Thermal library: | included |
| Electric thermostatization of measuring head: | included |
| Low temperature options: | LN2, Intracooler |
| Vacuum tight design: | yes |
| Automatic evacuation system: | optional |
| OGS oxygen getter system: | optional |
| *Specs depend on configurations | |
오븐 프로그램
DIL L75 PT 수평
TEMPERATURE | TYPE | HEATING ELEMENT | ATMOSPHERE | TEMPERATURE SENSOR |
|---|---|---|---|---|
| -180°C – 500°C | L75/264 | Thermo coax | inert, oxid., red., vac. | Type K |
| -180°C – 700°C | L75/264/700 | Thermo coax | inert, oxid., red., vac. | Type K |
| -180°C up to 1000°C | L75/264/1000 | Thermo coax | inert, oxid., red., vac. | Type K |
| RT – 1000°C | L75/220 | SiC, Kanthal | inert, oxid., red., vac. | Type K |
| RT – 1400°C | L75/230 | SiC, Kanthal | inert, oxid., red., vac. | Type S |
| RT – 1600°C | L75/240 | SiC | inert, oxid., red., vac. | Type S |
| RT – 1650°C | L75/240 PT | Platinum | inert, oxid., vac. | Type S |
| RT – 2000°C | L75/260 | Graphite | N2/Vac. | Type C and/oder Pyrometer |
| RT – 2800°C | L75/280 | Graphite | N2/Vac. | Pyrometer |
DIL L75 PT 수직
TEMPERATURE | TYPE | HEATING ELEMENT | ATMOSPHERE | TEMPERATURE SENSOR |
|---|---|---|---|---|
| -263°C – 300°C | L75/264 He | Thermo coax | inert, oxid., red., vac. | Semiconductor / Pt 100 |
| -180°C – 500°C | L75/264 | Thermo coax | inert, oxid., red., vac. | Type K |
| -180°C – 700°C | L75/264/700 | Thermo coax | inert, oxid., red., vac. | Type K |
| -180°C up to 1000°C | L75/264/1000 | Thermo coax | inert, oxid., red., vac. | Type K |
| RT – 1000°C | L75/220 | SiC, Kanthal | inert, oxid., red., vac. | Type K |
| RT – 1400°C | L75/230 | SiC, Kanthal | inert, oxid., red., vac. | Type S |
| RT – 1600°C | L75/240 | SiC | inert, oxid., red., vac. | Type S |
| RT – 1650°C | L75/240 PT | Platinum | inert, oxid., vac. | Type S |
| RT – 1750°C | L75/240 M | MoSi2 | inert, oxid., red., vac. | Type B |
| RT – 2000°C | L75/260 | Graphite | N2/Vac. | Type C and/oder Pyrometer |
| RT – 2400°C | L75/270 | Graphite | N2/Vac. | Pyrometer |
| RT – 2800°C | L75/280 | Graphite | N2/Vac. | Pyrometer |
액세서리
- 샘플 준비용 장치
- 다양한 샘플 홀더(크기, 재질)
- 샘플 길이의 수동 또는 온라인 입력을 위한 캘리퍼스
- 최대 3개의 오븐용 턴테이블
- 다양한 가스 박스: 수동, 반자동 및 MFC 제어식
- 소프트웨어 옵션 속도 제어 소결(RCS)
- 다양한 로터리 및 터보 분자 펌프
- 100% H2에서 작동 가능성
- LN2 냉각
소프트웨어
값을 가시화하고 비교 가능하게 만들기
- 유리 전이 및 연화점 측정
- 자동 연화 포인트 스위치 오프, 자유롭게 조정 가능(시스템 보호)
- 절대적 또는 상대적 수축 또는 팽창 표시
- 기술적/물리적 팽창 계수의 표현 및 계산
- 속도 제어 소결(소프트웨어 옵션)
- 소결 공정 평가
- 밀도 결정
- 자동 평가 루틴
- 시스템 보정(온도, 제로 커브 등)
- 자동 영점 조정
- 자동 펀치 접촉 압력 제어
일반 기능
- 실시간 컬러 디스플레이
- 자동 및 수동 스케일링
- 자유롭게 선택할 수 있는 축 표시(예: 온도
예: 델타 L(y축)에 대한 온도(x축)) - 수학적 계산(예: 일차 및 이차 미분)
- 전체 평가 저장
- 멀티태스킹 기능
- 다중 사용자 기능
- 다양한 커브 섹션을 위한 확대/축소 옵션
- 비교를 위해 여러 개의 커브를 서로 겹쳐서 로드할 수 있습니다.
- 온라인 도움말 메뉴
- 무료 라벨링
- 측정 데이터의 EXCEL® 및 ASCII 내보내기
- 데이터 평활화
- 제로 커브 오프셋
- 커서 기능
- 통계 곡선 평가(신뢰 구간이 있는 평균값 곡선)
- 데이터 및 확장 계수의 표 형식 출력
- 알파 물리, 알파 기술, 상대 팽창 L/L0 계산
- 곡선 산술, 덧셈, 뺄셈, 곱셈
적용분야
적용 예시: 유리 세라믹
팽창계측법은 유리 세라믹의 열팽창 계수(CTE)와 연화점을 측정하는 데 탁월한 방법입니다.
절대 팽창, 상대 팽창 및 열팽창 계수(CTE) 외에도 온도에 대한 절대 팽창의 첫 번째 미분도 계산할 수 있습니다.
미분의 O-통로는 열팽창의 최대치이므로 재료의 연화점을 정확하게 계산할 수 있습니다.
적용 사례
5K/분 가열 속도에서 아르곤 분위기에서 측정한 시료의 선형 열팽창(ΔL) 및 열팽창 계수 CTE는 736.3°C에서 공융점 및 퀴리점을 가집니다.
측정된 팽창 계수의 온도 피크를 문헌 값과 비교하여 장치의 보정 상태를 확인할 수 있습니다.
충분한 정보 제공
