전기적 속성

열전 측정 장치

폐열 회수 / 열전 발전기(TEG) / 펠티에 소자 / 센서

시벡, 펠티에, 톰슨 효과

열전기는 일반적으로 물질에서 온도와 전기의 상호 영향을 설명하며 다음과 같은 세 가지 기본 효과에 기반합니다. 시벡 효과, 펠티에 효과 및 톰슨 효과입니다. 제벡 효과는 1821년 독일의 물리학자 토마스 J. 제벡이 발견한 것으로, 전기적으로 절연된 도체에 온도 구배를 가할 때 전기장이 발생하는 현상을 설명합니다. 시벡 계수 S는 음의 열전 전압과 온도 차이의 몫으로 정의되며, 일반적으로 µV/K 단위로 지정되는 순전히 재료별 양입니다.

반대의 경우, 펠티에 효과라고 하는 이 효과는 도체에 외부 전류가 가해지면 온도 구배가 나타납니다.
이 현상은 관련된 물질의 전도 대역의 에너지 레벨이 다르기 때문에 발생합니다.
한 물질에서 다른 물질로 이동할 때 전하 캐리어는 열의 형태로 에너지를 흡수하여 접촉점을 냉각시키거나 열의 형태로 에너지를 방출하여 접촉점을 가열할 수 있습니다.

화석 연료의 희소성이 높아지고 이산화탄소 배출량 증가로 인한 지구 온난화에 대한 최신 연구 결과가 발표되면서 폐열을 효과적으로 사용할 수 있는 열전기 분야가 다시 한 번 대중의 관심을 받고 있습니다.
자동차나 기존 발전소와 같은 열기관에서 발생하는 폐열을 열전 발전기(TEG)를 통해 사용하여 효율을 높이는 것이 목표입니다.
그러나 효율적인 열전 소재는 레이저에서 온도에 중요한 부품의 온도 조절과 같이 펠티에 효과를 사용하는 냉각 애플리케이션에도 큰 관심을 받고 있습니다.

재료의 열전 변환 효율은 일반적으로 디밍이 없는 ZT. 이것은 열 전도성와 시벡 계수 및 전기 전도도.

이러한 발전에 부응하기 위해 간단하고 매우 정밀한 재료 특성 분석을 위한 장비를 개발했습니다.
린사이스의 LSR-3는 한 번의 측정으로 -100°C~1500°C 온도 범위에서 시료의 시벡 계수와 전기 저항을 모두 측정할 수 있습니다.

Semiconductor und Elektronikbranche

린세이 전기적 특성 시리즈

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적용 및 샘플 개요

다음은 열전기를 위한 다양한 측정 기기에 대한 개요입니다. 이는 여러분을 위한 가이드 역할을 할 것입니다. 측정 또는 재료에 대해 궁금한 점이 있으면 언제든지 문의 양식을 사용하여 메시지를 보내주세요.

ja
녹색: 측정 가능


노란색: 측정 가능


회색: 측정 불가

MODEL

LSR-3

LSR-4

LZT

HCS

TFA

InfoStandard PlattformHarman upgrade for LSR-3Combination of LSR-3 + LFA 1000additionally with Hall constantThin films on Linseis-chip
Measurements
Seebeck coefficient
Resistivity/Conductivity
Hall constant/ Hall mobility / load carrier
Thermal diffusivity
Thermal conductivity
*Note the hint
Complete ZT characterization
Defined Atmospheres
Temperature range-100 to +1500°C-100 to +1500°C (Harman -100 to 300)-100 to +1100°C-150 to +600°C-170 to +300°C
Price$$$$$$$$$$$
Samples
Firm
Thin films
**Note the hint

**Note the hint
* Calculated thermal conductivity from the Harman method for direct ZT measurement. The Harman method is only applicable for good thermoelectric samples from -100°C to +300°C.
** Seebeck and resistivity of thin films can be measured, but the Harman method is only applicable to solids, not thin films.
*** Seebeck and resistivity of thin films can be measured, but the LFA method is only applicable to solids and thicker films (> 100 µm).

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