EGA-Optical In-Situ

EGA In-Situ - Couplage

Description

En bref

Techniques disponibles :

  • FTIR : Spectroscopie infrarouge à transformée de Fourier : Mesure des composants gazeux de base et à l’état de traces jusqu’à la gamme des ppm (par exemple H2O,CO2, CO,H2S…).
  • Spectroscopie Raman : Mesure des composants gazeux de base.
    Mêmes des molécules non polaires comme H2 ou N2 peuvent être détectées.
  • ELIF : Fluorescence de fragmentation induite par laser excimer : Méthode de mesure par laser UV des composés alcalins gazeux (par exemple NaCI, NaOH, KCI, KOH).
    Un port optique avec fenêtre en saphire est disponible pour mesure dans l’UV à 193 nm.

Optique_in_situ

 

Avantages du port optique in-situ :

  • Pas de refroidissement / modification du gaz de mesure (par exemple pas de décondensation, pas de réaction de transition, pas de déplacement de l’équilibre)
  • De nombreux matériaux ayant une température de condensation élevée, par exemple les métaux alcalins (Na, K et leurs composés), peuvent maintenant être analysés. Un capillaire chauffé ne convient que pour des températures maximales de 200 à 250°C, le port optique permet des mesures jusqu’à 1600°C.
  • Pas d’interférences avec le système de mesure (par exemple lors de l’aspiration de gaz)
  • Pas de contamination du gaz de mesure comme dans les capillaires de transfert pour MS ou FTIR
  • Mesure en ligne en temps réel (pas de temps mort jusqu’à ce que le volume mesuré entre dans l’analyseur de gaz)

Mesure in situ

Caractéristiques uniques

Aucun refroidissement n'est nécessaire :
Évite les changements dans le gaz de l'échantillon
et permet des mesures plus précises
.

Mesures à haute température :
Mesures jusqu'à 1600°C, idéal
pour les matériaux ayant une
température de condensation
élevée
.

Aucune interaction avec le système de mesure :
Empêche la contamination et les changements
dans l'échantillon de gaz
.

Mesure en ligne en temps réel :
Résultats immédiats sans temps d'attente.

Méthodes de mesure multi-facettes :
utilisation de la spectroscopie FTIR,
Raman et ELIF.

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et vendredi de 8 à 12 heures.

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