Conductivité thermique

Appareils de mesure pour déterminer la conductivité et la diffusivité thermique

Il existe différentes manières de déterminer la conductivité thermique, la diffusivité thermique et la capacité thermique spécifique, en fonction du matériau à analyser, de la température de mesure et de la précision requise.

La méthode la plus courante pour déterminer la diffusivité thermique est la méthode du flash laser et du flash lumière (LFA).
La méthode du flash laser peut être utilisée dans une très large gamme de températures (de -125°C à 2800°C) et dans presque toute la gamme de conductivité thermique.

La méthode méthode du pont chauffant transitoire (THB: transient hot bridge) est une méthode du fil chaud optimisée par l’Institut de Métrologie Allemand (PTB: Physikalisch-Technische Bundesanstalt), avec laquelle la conductivité thermique, la diffusivité thermique et la capacité thermique spécifique peuvent être déterminées en moins d’une minute.
La gamme de mesures de la conductivité thermique s’étend des matériaux d’isolation aux céramiques et aux métaux.

Le fluxmètre de chaleur (HFM) est un appareil classique à plaques qui est principalement utilisé pour le contrôle de la qualité des matériaux isolants.
Le HFM permet de déterminer la conductivité thermique avec la plus grande précision possible.

Pour les échantillons en couches minces (échelle du nm au μm), LINSEIS a développé le nouveau flash laser pour couches minces. (TF-LFA) et l’analyseur universel de couches minces sur capteur à usage unique TFA (analyseur de couches minces).

Gamme conductivité thermique Linseis

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Erika

Tél : +49 (0) 9287/880 0
info[at]linseis.de

Aperçu des applications et des échantillons

Vous trouverez ci-dessous un aperçu des différents instruments de mesure de la conductivité thermique. Il s’agit d’un guide pour vous. Si vous avez des questions concernant une mesure ou un matériau, vous pouvez à tout moment nous envoyer un message à l’aide du formulaire de contact.

Vert : Mesure possible

Mesure éventuellement possible

Gris : mesure impossible

DEVICE

LFA

TIM-TESTER

THB

HFM

TFA

TF-LFA

InfoMost universal measuring deviceFor Thermal Interface MaterialsQuick and easy measurementsFor insulating materialsThin films on Linseis chipThin films from nm to μm
Measurements
Thermal conductivity
Thermal diffusivity
Specific heat capacity
Specific thermal resistance
Determined pressure on the sample
Atmospheres
Temperature range-125°C up to +2800°C-20°C up to +300°C-150°C up to +700°C-40°C up to +90°C-170°C up to +300°C-100°C up to +500°C
Price€€ – €€€€€€€€€€€€€
Samples
Solid
Liquid
Powder
Paste
Pad
Thin film

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