Avec le nouveau LSR-1 de Linseis Messgeräte GmbH, les matériaux thermoélectriques, tels que ceux utilisés dans les capteurs ou les éléments Peltie, peuvent être caractérisés facilement et commodément sous forme de matériaux solides et de couches minces.
Dans la version de base – New LSR-1 – le coefficient Seebeck et la résistivité électrique peuvent être mesurés de manière entièrement automatique et simultanée de -160°C à 200°C.
La version de base peut être complétée par un détecteur de gaz.
La version de base peut être complétée par un système de dosage de gaz, un éclairage de l’échantillon et une option cryogénique.
Le nouveau système LSR-1 permet de caractériser les échantillons métalliques et semi-conducteurs selon la méthode bien connue de Van der Pauw (résistivité) ainsi que le coefficient Seebeck par balayage de gradient et régression linéaire.
Les couches minces, qui peuvent être mesurées avec le nouveau LSR-1, se retrouvent dans la technologie des semi-conducteurs, la production d’écrans à cristaux liquides (LCD) et de nombreuses autres applications de la nanotechnologie telles que les modules solaires, la production de capteurs ou la technologie médicale.
