EGA-Óptica in situ

EGA in situ - Acoplamiento

Descripción de la

Al grano

Posibles técnicas:

  • FTIR: Espectroscopia infrarroja por transformada de Fourier: Medición de componentes de gases base y traza hasta el rango de ppm (por ejemplo, H2O,CO2, CO, H2S…). Se requieren enlaces moleculares polares en la muestra.
  • Espectroscopia Raman: Medición de los componentes básicos de los gases. También se pueden medir moléculas no polares como el H2 o el N2.
  • ELIF: Fluorescencia de fragmentación inducida por láser excímer: método basado en láser UV para medir compuestos alcalinos gaseosos (p. ej. NaCI, NaOH, KCI, KOH). También es posible la entrada UV_Sapphire a 193 nm.

Ventajas de la ventana óptica in situ:

  • Sin enfriamiento/modificación del gas de muestra (por ejemplo, sin condensación, sin reacción de transición, sin desplazamiento del equilibrio)
  • Ahora se pueden medir muchos materiales con altas temperaturas de condensación, como los metales alcalinos (Na, K y sus compuestos). Una solución capilar calentada sólo sería adecuada para 200-250 °C, el puerto óptico permite medir hasta 1600 °C
  • Sin intervención en el sistema de medición (por ejemplo, mediante extracción de gas por vacío)
  • Sin contaminación del gas de muestra en el capilar para M/S o FTIR
  • Medición en línea en tiempo real (sin retardo hasta que el volumen medido llega al dispositivo de medición)

Características únicas

No requiere refrigeración: Evita cambios en el gas de muestra y permite mediciones más precisas.

Mediciones a alta temperatura:

Mediciones hasta 1600°C, ideal para materiales con alta temperatura de condensación.


Sin interacciones con el sistema de medición: Evita la contaminación y los cambios en el gas de muestra.

Medición en línea en tiempo real: resultados inmediatos sin tiempos de espera.

Métodos de medición versátiles: utilización de FTIR, espectroscopia Raman y ELIF.

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