Con el nuevo LSR-1 de Linseis Messgeräte GmbH se pueden caracterizar fácil y cómodamente materiales termoeléctricos, como los utilizados en sensores o elementos Peltie, en forma de materiales sólidos y láminas delgadas.
En la versión básica -Nuevo LSR-1- se pueden medir tanto el coeficiente Seebeck como la resistividad eléctrica de forma totalmente automática y simultánea desde -160°C hasta 200°C.
La versión básica se puede complementar con un detector de gas.
La versión básica puede ampliarse con un sistema de dosificación de gas, iluminación de la muestra y una opción de criogenización.
El nuevo sistema LSR-1 permite caracterizar muestras metálicas y semiconductoras según el conocido método de Van der Pauw (resistividad), así como el coeficiente Seebeck mediante barrido de gradiente y regresión lineal.
Las películas finas, que pueden medirse con el nuevo LSR-1, se encuentran en la tecnología de semiconductores, la producción de pantallas de cristal líquido (LCD) y muchas otras aplicaciones de la nanotecnología, como los módulos solares, la producción de sensores o la tecnología médica.
